物理測量
Ⅰ 物理測量取值
這是一個估計的問題,一般的科學讀數都是要估讀一位的,除非有特殊要求
Ⅱ 初中物理測量長度的方法有幾種
測量長度的方法：
1、用刻度尺直接測量物體的長度。
2、累積法 ： 把多個相同的微小量放在一起進行測量，再將測量結果除以被測量的個數，得出被測量值。
3、替代法 ： 測量某個與被測量相等的量，用以代替對被測量的直接測量。
4、平移法： 當物體的長度不能直接測量時（如球的直徑，圓錐體的高等），就要想辦法把它等值平移到物體的外部，再用刻度尺測量。
5、滾動法 ： 先測出某個輪子的周長，讓此輪子在被測曲線上滾動，記錄滾動的圈數。然後用輪子周長乘以圈數就可得到曲線路徑的長度。
Ⅲ 物理的個個量的測量方法
密度等質量除體積..電阻等於電壓除電流
Ⅳ 物理（測量）方法
累積法：因為物體太薄或太細測量不準確，所以把n個同樣的物體累積在一起，再測量，測出的結果再除以物體的個數，n。
對比法：把兩個或多個實驗結果進行比較，得出結論。
控制變數法：固定實驗中的一些條件不變，改變一個條件，進行試驗。（一般控制變數法經常與對比法連用）
等效替代法：當一個物體在實驗時，變化的量不明顯，或變化的量無法測量出來。所以用力一個物體的變化代替這個物體的變化。例如在測量不規則物體的體積時，就用量筒中的水的體積來代替不規則物體的體積。（注意分清等效替代法和轉換法，這兩個容易搞混）
Ⅳ 物理實驗中經常需要物理測量
（1）讀圖可知，天平的示數為50g+20g+2.4g=72.4g；
（2）量筒的分度值是：1ml；量筒內液體的體積是：36ml．
（3）圖丙所示的溫度計的刻度是越往下示數越大，因此對應的溫度是零攝氏度以下的溫度值（也可以用負數來表示），分度值為1℃，因此圖乙中的溫度值為-13℃．
（4）刻度盤上的示數最後一位是小數點後的數字．電能表的示數為931.6kW•h
故答案為：（1）72.4；（2）36；（3）-13；（4）931.6．
Ⅵ 物理(測量)方法
你好復:
累積法可用於測量紙的大致厚制度，比如用毫米刻度尺測量《科學》教科書一張紙的厚度，步驟如下
1、觀察毫米刻度尺的0刻度線及其他刻度線是否磨損;
2、在《科學》教科書中選出100(50張紙)頁，並壓實;
3、連續3次測出這50張紙的厚度，取平均數。4
用平均數除以50即得到每張紙的厚度。
Ⅶ 物理（關於測量的）
1
先測出空的墨水瓶的質量M1
2再測出
裝滿水後墨水瓶的質量M2
則墨水瓶的容積
V=(M2-M1)/p水
p水
是水的密度（1g/cm^3)
Ⅷ 物理測量方法需要下結論嗎
物理的特殊測量方法：
1、 積累法。把數個相同的微小量放在一起進行測量，再將測量結果除以被測量的個數就得到一個微小的數量。
2、化曲為直法。用幾乎沒有彈性的細線或細繩沿著曲線繞上一周，作好兩端的記號或割除多餘的部分，然後輕輕地拉直，放在刻度尺上測量出細線或細繩的長度，即為所測量的曲線的長度。
3、輔助器材法：就是用多個測量儀器進行測量。
4、滾輪法：可用一輪子沿曲線滾動，記下輪子滾動圈數，測出輪子的直徑算出周長，用輪子周長乘以圈數就得到這一曲線的長度。
5、等量代替法：利用輔助工具（直角三角板）創造幾何等量關系，然後進行測量。
Ⅸ 物理，測量實際上是一個什麼過程
物理測量實際上是一個比較過程，就是將一個待測的量與一個公認的測量標准進行比較。
在機械工程裡面，測量指將被測量與具有計量單位的標准量在數值上進行比較，從而確定二者比值的實驗認識過程。
實驗物理中至關重要的一點是：任何測量，如果沒有誤差的任何知識，則這個測量是毫無意義的。
測量的結果要表示成x±y的形式，其中y就是誤差。在計算中，結果的有效數字不能多於參加計算的有效數字，否則多出來的數字是沒有任何意義的。對於近似，通常採用向上近似法，比如1.35要近似為1.4，這樣可以減少誤差。
(9)物理測量擴展閱讀
1）測量按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。
直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。
顯然，直接測量比較直觀，間接測量比較繁瑣。一般當被測尺寸或用直接測量達不到精度要求時，就不得不採用間接測量。
2）測量按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。如用比較儀測量軸的直徑，需先用量塊調整好儀器的零位，然後進行測量，測得值是被側軸的直徑相對於量塊尺寸的差值，這就是相對測量。一般說來相對測量的精度比較高些，但測量比較麻煩。
3）測量按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。