化学元素分析仪器

❶ 化学中元素分析仪可检验金属元素吗

最方便快捷的方法是用仪器检测，比如多元素分析仪。
如果纯化学方法检测金属元素，则一般需要经过先定性分析、再定量测定等过程。对于不同的元素要采用不同的测定方法，存在着繁琐费时等缺点。

❷ 光谱仪化学元素分析时个别字母出现红字及个元素与实际相差太大是什么情况

光谱仪的分析数据超过最高分析范围，就会出现红色，表示超过量程，有可能是这个样品某个元素含量超标，也有可能是仪器需要校准

❸ 能够分析化学元素周期表中的所有元素的仪器有吗

没有的
各个化学元素的特性
有的不一样有的是一样的
不是同一个仪器能分析出来的
望采纳

❹ 光谱仪分析矿石元素和化学分析哪一个准确

这属于仪器分析与化学分析的区别，相对误差是化学分析来的小（低于百分之二），而仪器分析较高，有的能达到百分之两百，但是化学分析的适用范围远远小于仪器分析（检测限低）属于常量分析，但是像光学分析通常能检测痕量分析有的能检测十的负八这个数量级，化学分析不可能达到。而且其还有快速简便的优势。

❺ 求四川大学化学学院的元素分析仪器的铭牌、型号、生产厂商，写毕业论文用！急急急！

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❻ 化学成分分析

彩色宝石化学成分复杂,微量元素种类多,对多数不具明显内部包体及生长特征的样品,其微量元素含量及其组合特征是产地鉴别最主要的“指纹性”特征。现阶段主要使用的无损及微损的元素分析方法有X射线荧光能谱仪(EDXRF)、激光烧蚀电感耦合质谱仪(LA-ICP-MS)、电子探针(EPMA)和二次离子质谱仪(SIMS)。各种方法仪器在性能、检出限等方面对样品的要求都不一样。其中,二次离子质谱仪为高集成、高精度的超大型仪器,除能对样品中的微量元素进行定量测试外,还能对样品的部分同位素组成进行定量测试。

(一)X射线荧光能谱仪(EDXRF)

X射线荧光能谱仪(图2-14)在珠宝玉石鉴定,特别是对样品的主要化学成分及微量元素的定性和半定量测试方面均有广泛应用,是众多化学成分分析仪器中少有的完全无损的分析仪器。

X射线荧光能谱仪由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)激发被测样品,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性,探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量,然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

图2-17 尖晶石中Cr、Fe含量分布相图

图2-18 不同产地天然变石中两种主要致色微量元素w(Fe₂O₃)/w(Cr₂O₃)二元系相图

(三)电子探针(EPMA)

电子探针可以定量或定性地分析物质的化学成分、表面形貌及结构特征,是一种有效、无损的化学成分分析方法。其基本原理是用聚焦很细的电子束照射所检测样品的表面,激发组成矿物元素的特征X射线。用分光器或检波器测定X射线荧光的波长,将其强度与标准样品对比,或根据不同强度校正直接计数出组分含量。由于电子束照射面积很小,因而相应的X射线特征谱线可反映出该微小区域内的元素种类及其含量。

为了便于选择和确定分析点,电子探针的镜筒内装有与电子束同轴的光学显微镜观察系统,以确保分析位置。目前电子探针可以检测到绝大多数元素,包括以前不能检测的轻量元素,这种微区定量的检测手段在彩色宝石产地鉴定方面发挥着重要作用。但由于样品制作有时需要磨制特定的探针片,且需要镀导电膜,故其主要应用于珠宝玉石研究中,在实际的珠宝玉石鉴定方面使用较少。

(四)激光诱导击穿光谱仪(LBS)

激光诱导击穿光谱仪(LIBS)应用的是一种光谱探测技术。其基本原理为用高能激光产生的能量脉冲烧蚀样品表面的微区,处于高温下的烧蚀样品的原子和离子均处于活跃性极强的激发态,因此会释放特定波长的光谱,通过用高灵敏度的光学光谱仪收集烧蚀样品表面的光谱,根据光谱测量得出样品中的化学元素组成。21世纪初,当市场上出现铍扩散处理的橙色蓝宝石时,由于常规的X射线荧光光谱仪不能检测出Be元素,而能检测出Be元素的仪器,如激光烧蚀等离子体质谱仪和二次离子质谱仪太昂贵,瑞士宝石研究所研发了用于珠宝玉石鉴定用的LIBS仪器。

激光诱导击穿光谱仪相对于其他测试Be元素的方法(如激光烧蚀等离子质谱仪LA-ICP-MS和次级离子质谱SIMS)而言,具有易于操作、体积较小等优越性。由于此仪器要用高能的激光器和CCD光谱仪,故价格比较昂贵,但其寿命较长,耐消耗,且灵敏度高,可以测试出很低含量的铍,同时几乎可以分析所有的化学元素,并且可根据谱峰的高低来对其含量进行比较,在珠宝玉石的鉴定、检测和研究中发挥着越来越重要的作用。

该仪器的缺点是只能定性分析样品的元素组成,无法实现其定量化。对宝玉石而言,LIBS技术仍是一种有损分析,会在其表面形成微小的熔坑,故应在可激发范围内尽量降低激光能量,利用环境气体来降低检测限及提高谱线强度,以减少损耗。

(五)二次离子质谱仪(SIMS)

二次离子质谱仪(SIMS)采用质谱技术,利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来,通过分析表面原子层以确定样品表面元素组成和分子结构,其特点是高灵敏度和高分辨率。

二次离子质谱仪的化学元素分析范围很广,由最小的氢至原子量很大的元素均可检测,其高灵敏度体现在它可以检测含量十亿分之几的微量元素(即检测极可达10^-9)。二次离子质谱仪不但可作表面及整体的元素分析,又可直接作影像观察,其灵敏度及解析能力甚高。但是,SIMS要求一定的制样和仪器准备时间,分析成本相对于LA-ICP-MS尤其是LIBS来说要高。此外,如果经过了精确校准,SIMS也可以确定固体物质中的主要和次要同位素组成。到目前为止,SIMS在宝石学上的应用主要是彩色宝石的产地特征研究。

❼ 不锈钢元素化学分析用哪种光谱分析仪

我们公司需要对进厂的不锈钢材料进行质量检测，我们当时调研过英国阿朗，聚光盈安，等几个牌子。最后选择了聚光盈安。测试的时候英国阿朗的数据也很不错，但是由于我们不需要达到那么高的精度，预算又有限，就放弃了。

❽ 化学元素分析仪如何维护保养

最方便快捷的方法是用仪器检测，比如多元素分析仪。如果纯化学方法检测金属元素，则一般需要经过先定性分析、再定量测定等过程。对于不同的元素要采用不同的测定方法，存在着繁琐费时等缺点。

❾ 有什么合金分析仪能够做到全元素分析，即化学元素周期表中所有元素都可以检测出的分析仪

Sciaps libz高端性，便携式激光诱导击穿光谱仪，相对于便携式XRF，有更多的元素可以分析。元素氢（H），到钠（Na）可通过Z进行测量，但不能由便携式XRF测定。这包括像碳，锂，铍，硼，钠和其他关键元素。相比于便携式XRF，由于该技术的光学性质，Z在低得多的检测下限可测量镁，硅，铝等元素。

❿ 下列说法正确的是（） A．现代化学分析测试中，常借助一些仪器来分析化学物质的组成，比如用元素